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XRF镀层测量与分析:基本原理
点击次数:515 发布时间:2018-08-02

博曼XRF射线装置利用X射线荧光原理测量镀层和成分。样品被来自射线管的射线轰击,产生荧光。通过荧光的能量我们可以知道样品中存在哪些元素,通过XRF的强度我们可以分析获得样品的厚度和每个元素的成分。

X射线是看不见的。需要设备将X射线转化成我们可以理解和处理的信号,以便我们可以从X射线中提取信息。此设备称为探测器。探测器与数字脉冲器(将X射线转换为电信号)。探测器通常有三个标准,能量分辨率,探测效率和稳健性。能量分辨率是指分辨能量差很小的两个光子的能力。探测效率是指记录X射线的效率。为了实现更好的测量性能,所有博曼设备均配有硅探测器。

电镀槽组件的管理,包括主要组件,痕量组件以及添加剂。这些因素的管控关乎产品品质与成本。

博曼XRF系统提供高精度,非破坏性,快速和用户友好的方法来分析镀液的金属含量。

 

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